1. 样品要求：块状和薄膜样品，长宽小于10mm，厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm)；粉末样品，不少于10mg；刻蚀的样品尺寸尽量做5-10mm的方块；块状和薄膜测试面务必备注清楚，可在反面贴个小标签或用笔标记。

2. 特别注意：无法测试含单质氟/单质硫/单质碘材料；样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样，样品接触空气容易受C，N，O等元素污染，测试结果可能会有误差；含量小于5%的元素可能测不出明显信号，请悉知！

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

1．样品要求：粉末样品不少于20mg（样品需要提前研磨，颗粒较大将导致图谱峰形不完整或出现偏差）；块体或薄膜在1×1cm到2.4×2.4cm，厚度小于1cm（至少有一个面是平整的）；

2.  特别注意：测试是连续扫描；特殊尺寸请提前沟通，表面不平整、粒度大小可能会影响数据效果，测前请依据自己的测试目的进行确认；

3.  掠入射尺寸同常规块体要求，整体厚度不超过2mm，薄膜层尽量均匀；（请提供基底信息，若有常规测试谱图请提供）

4．如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

1，粉末量要求10mg以上；

2，固体/块状样品尺寸要求最小2*2mm

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问

1. 样品要求：粉体样品5mg以上；块体最大尺寸：30×30mm；液体提供0.5ml以上；

2. 特别注意：为避免水峰对样品造成干扰，所测样品必须保证干燥，本平台默认红外灯照射烘干，如需其他干燥处理，请提前备注干燥条件，由于未告知干燥条件导致的数据问题，复测需要由委托方承担复测费用；

3. 默认中红外400-4000cm-1波段

4. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

确定样品有荧光性能，样品要光激励下能发光，不然所有荧光类测试都没有意义！

看样品是否有荧光，最简单直观的：紫外激光灯照或者紫外暗箱照射下看看样品有没有发光。

粉末样品：一般需要20mg以上，块状或薄膜样品要求基底尺寸在1*1cm-2*2cm之间。

溶液样品：5ml左右，可能有溶度猝灭、溶剂效应等因素带来的影响，所以浓度根据自己样品情况把控，不做要求。

（1）需对比荧光强度的务必备注一下：同一测试条件下测试对比荧光强度；

（2）一定要测过先测过光谱的前提下再预约寿命、产率的测试！如未测过光谱，需同时预约光谱测试！

（3）测量子产率时，固体样品用硫酸钡作空白样，溶液的样品以溶剂作空白样。所以溶液样品测产率需同时提供溶剂，具体是什么溶剂请在预约时备注。

1、样品最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染，尺寸必须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm。UPS的光斑大小3mmX3mm,如果因样品尺寸不符合要求导致收集到样品托或者其他位置的信息，需要自己承担责任。

2、UPS测试表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧会影响测试结果，建议暴露空气中的样品选择用离子源清洁后测试，数据更加准确。

3、粉末样品建议使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，尺寸必须大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可。

3、粉末样品需要制样，粉末颗粒直径最好在1万目以下，摸起来类似面粉，越细越好。使用旋涂法制样，需要制备1cmX1cm的薄片，请提供2ml体积的样品量。做粉末样品风险大，不建议做，测试反馈真实的数据不做解释和复测处理。如果下单，默认接受风险。

4、如果测试目的是功函数，要求样品的导电性比较良好，电阻小于3千欧。

5、粉末样品如非必要不建议测试。

6、UPS测试对样品的要求比较高，切记一定要满足测试所需样品的要求！！！

1. 样品要求：粉末样品量要求1.5ml以上（或可以压成直径15mm，厚1mm的圆片），如不足，默认与硫酸钡混合压片测试，会对数据结果产生一定影响。由于近红外需要切换光源等原因，一般1400nm以上数据会有严重波动，请悉知；块体尺寸：长宽大于15 mm，厚度最大10mm，透过率测试长宽要大于30mm；液体样品至少4ml，需告知并提供溶液中溶剂做背景扣除；

常规日立仪器测试，主要是确认激发发射范围、扫描的间隔。

固体液体皆可，常测液体，提供 5 ml 左右的量， 样品需为透明溶液，不能含有悬浊物质。

液体的话需告知溶剂是什么（常规是水），会单独给溶剂测背景，扣除散射用。 

液体样品只测试透明均一的溶液，含悬浊物大颗粒的样品不接受，应预先过滤膜处理！